台式数显薄膜测厚仪

一用途：主要适用于薄膜及其他片状材料的厚度测定。

 二主要技术参数

1.量程：0-12.7mm

2.分辨率：千分表0.001mm  

3.电源：1.55V纽扣电池

三符合标准：GB6675  EN71  ASTM F963